和呈推出新电子元器件老化测试系统 近日，上海和呈推出了电子元器件老化测试系统，该系统主要用于对探井设备电路板中多种电子元器件的入厂筛选与检验，其中包括对电阻、电容、电感等常用元器件的检测。

 作为专业的电子元器件老化测试系统，其可在室温至180度的任意温度点下，对电子元器件进行功能、电气指标的自动化测试，温度测量精度可达0.1℃。该测试系统由老化板、老化插座、负载板及泛华恒兴自主研发的信号路由矩阵组成，模块化设计保证了系统具有强大的扩展性。系统采用大腔体设计，可接受多16块不同的老化板同时进行测试。老化板适配夹具耐温可达270℃，接口可基于元器件任意定制。同时，该系统还可以任意设置老化温度点、老化时间与循环测试时间间隔，以满足不同的测试需求。

　　

　　电子元器件老化测试系统拥有丰富仪器和软件算法功能，并可对8类不同被测件如：电阻(1Ω~10MΩ)、电容(1PF~1F)、电感(10nH~100H)、稳压器、二极管以及变压器等多种元器件的测试和评判，测试内容包括LCR、电容耐压、三端稳压器纹波、信号变压器带宽等项目。

　　

　　该系统专注于在线环境仿真与性能检测，除装卸件采用手动完成外，测试过程均由系统自动完成，操作简单，在节约生产时间的同时，降低了设备的总体投入成本。此外，还具有强大的数据存储、曲线分析与报表生成功能，可得出元器件在老化过程中的特性变化，并对产品缺陷溯源，使操作管理更加人性便捷。